KPK & BI Dilibatkan Telusuri Rekam Jejak 32 Calon Lelang Jabatan

Liputan6.com, Jakarta - Panitia Seleksi (Pansel) terus menelurusi rekam jejak 32 kandidat lelang jabatan eselon I.a dan I.b Kementerian Keuangan (Kemenkeu) lewat uji publik yang melibatkan partisipasi masyarakat, Pusat Pelaporan dan Analisis Transaksi Keuangan (PPATK) dan Badan Intelijen Negara (BIN). Pihaknya memastikan pengumuman lima pimpinan madya itu pada akhir 2014.

Lima jabatan itu antara lain, Dirjen Pajak, Kepala Badan Kebijakan Fiskal (BKF), Kepala Badan Pendidikan dan Pelatihan Keuangan (BPPK), Staf Ahli Bidang Penerimaan Negara dan Staf Ahli Bidang Organisasi, Birokrasi, dan Teknologi Informasi.

Ketua Pansel sekaligus Wakil Menteri Keuangan, Mardiasmo mengatakan, pihaknya menyodorkan 32 calon lelang jabatan ke BIN, PPATK dan bisa kembali di review Komisi Pemberantasan Korupsi (KPK) atas persetujuan Menteri Keuangan.

"Uji kelayakan publik ada BIN, PPATK dan termasuk internal kita sendiri. Pokoknya semua kita serap informasinya, kita berikan bobot-bobotnya dan dari skor terakhir. Uji publik juga dari masyarakat," papar dia di kantornya, Jakarta, Selasa (16/12/2014).

Sesuai tenggat waktu uji publik pada 18 Desember 2014, lanjut Mardiasmo, Pansel akan menyerahkan nama-nama peserta lelang jabatan kepada Menteri Keuangan (Menkeu). Orang nomor satu di Kemenkeu itu nantinya akan melakukan wawancara lebih mendalam untuk selanjutnya diserahkan ke Presiden Joko Widodo.

"Sesuai dengan jadwal paling lambat tanggal 19 Desember ini dan nanti kita usulkan calon ke Pak Menkeu. Lalu biar Pak Menteri yang menyeleksi lebih lanjut," terang dia.

Wawancara kandidat oleh Menkeu, diakui Mardiasmo, akan digelar pada 22-23 Desember 2014. Sebelum Hari Raya Natal yang jatuh pada 25 Desember ini, Pansel sudah mendapatkan lima calon pejabat yang akan diserahkan ke Presiden.

"Mudah-mudahan akhir tahun sudah ditetapkan Presiden, jadi awal tahun depan, kita sudah punya Dirjen Pajak baru termasuk pejabat eselon I.a dan I.b yang lain dalam seleksi terbuka," tandas dia. (Fik/Ahm)